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產(chǎn)品分類AE-162E 用于超高速芯片電阻測試
非常適合 D、F、G、J、K 級、片式、MELF、
徑向和軸向電阻器的分選機和編帶機。
兼容極小芯片(低功耗測量)
超高速0.7msec.(典型值)
熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩(wěn)定性
通過每個量程的測量值積分時間設(shè)置功能,實現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測量。
%測量:±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]
絕對測量:0.00mΩ~200.00MΩ
接觸檢查:測量前/測量后/關(guān)閉可選
RS-232C接口標準設(shè)備(GP-IB可選)
打印機輸出標準設(shè)備(Centronics兼容)
標準設(shè)置值傳輸功能:(相同的設(shè)置數(shù)據(jù)可以傳輸?shù)搅硪慌_AE-162E以進行自動設(shè)置。)
標準配備測量電流/測量電壓異常檢查電路
兼容極小芯片(低功耗測量)
超高速0.7msec.(典型值)
熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩(wěn)定性
通過每個量程的測量值積分時間設(shè)置功能,實現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測量。
%測量:±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]
絕對測量:0.00mΩ~200.00MΩ
接觸檢查:測量前/測量后/關(guān)閉可選
RS-232C接口標準設(shè)備(GP-IB可選)
打印機輸出標準設(shè)備(Centronics兼容)
標準設(shè)置值傳輸功能:(相同的設(shè)置數(shù)據(jù)可以傳輸?shù)搅硪慌_AE-162E以進行自動設(shè)置。)
標準配備測量電流/測量電壓異常檢查電路